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中国医疗器械杂志 2020, Vol. 44 Issue (4) :367-370    DOI: 10.3969/j.issn.1671-7104.2020.04.019
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磁共振超SAR问题及应对方法
王宏杰,金锦江,褚永华
浙江大学医学院附属第二医院, 杭州市, 310009
The SAR Problem and Trouble Shooting Strategy
WANG Hongjie, JIN Jinjiang, CHU Yonghua
The Second Affiliated Hospital of Zhejiang University School of Medicine, Hangzhou, 310009

摘要
参考文献
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摘要 磁共振扫描时SAR超标,需要对层数、激发翻转角、SAR mode及TR时间等进行修改,这些将直接影响 扫描范围、时间、图像质量。该研究从SAR的基本定义出发,分析影响SAR的因素,结合西门子经典磁共 振(1.5 T AVANTO和3.0 T VERIO)原理图,从使用和故障角度分析SAR超标现象,说明此类问题故障诊 断的方法。
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关键词磁共振   SAR超标   原理图     
Abstract: The modifications of slices, flip angle, SAR mode and TR time are required when the SAR exceeds the limits. The scan time and image quality are affected by those. This study analyzes the SAR from the basic side. With the principle diagram of SIEMENS 1.5 T AVANTO and 3.0 T VERIO MRIS, the trouble shooting procedure of SAR problem is reached both in application and problem sides.  
Keywords:   
Received 2019-10-10;
Corresponding Authors: 褚永华     Email: 2190051@zju.edu.cn
About author: 王宏杰,E-mail: 2519184@zju.edu.cn
引用本文:   
王宏杰,金锦江,褚永华.磁共振超SAR问题及应对方法[J]  中国医疗器械杂志, 2020,V44(4): 367-370
WANG Hongjie, JIN Jinjiang, CHU Yonghua.The SAR Problem and Trouble Shooting Strategy[J]  Chinese Journal of Medical Instrumentation, 2020,V44(4): 367-370
Copyright 2010 by 中国医疗器械杂志